- 2021-07-28 10:59:18· 震动隔离系统-防振台的使用
- 2021-07-28 10:59:25· 种子包衣测量方案- filmetrics F3-s1310
- 2021-07-28 10:59:25· 蔡司sigma500电镜的隔振方案（优尼康）
- 2021-07-28 10:59:25· 什么是光学膜厚仪 ？
- 2021-07-28 10:59:25· 台阶仪的类别与基本原理
- 2021-07-28 10:59:25· Filmetrics膜厚仪 车灯行业解决方案
- 2021-07-28 10:59:25· 什么是X射线荧光镀层测厚仪？
- 2021-07-28 10:59:25· 光学膜厚仪的应用和原理
- 2021-07-28 10:59:25· 3D光学轮廓仪的特点以及应用
- 2021-07-28 10:59:25· 3D光学表面轮廓仪的工作原理和应用
- 2021-07-28 10:59:25· 优尼康微课堂：台阶仪相关知识科普
- 2025-02-26 13:01:22· 塑料薄膜厚度检测仪器：精确测量与行业应用
- 2025-02-26 13:01:22· 探针接触式台阶仪具备多个技术优势
- 2025-02-26 13:01:22· 优尼康微课堂｜Filmeasure软件光谱导出与配方导入的方法（文末互动送礼）
- 2025-02-26 13:01:22· 三维表面轮廓测量仪的应用与优势解析
- 2025-02-26 13:01:22· 光学3D表面轮廓仪原理
- 2025-02-26 13:01:22· 分光干涉膜厚仪：精确测量薄膜厚度的关键工具
- 2025-02-26 13:01:22· 椭偏仪测量膜厚的原理
- 2021-07-28 10:59:01· 薄膜厚度和表面测量先进技术研讨会
- 2021-07-28 10:59:01· 优尼康携膜厚测量技术首次亮相ZG材料大会（Ciamite 2019）
- 2021-07-28 10:59:01· 优尼康：膜厚测量技术在微电子化工品行业的应用
- 2021-07-28 10:59:01· 优尼康：膜厚测量技术在光刻胶领域的应用
- 2021-07-28 10:59:01· STM主动式防震台案例研究：国家纳米科学ZX
- 2021-07-28 10:59:01· AVI 主动式防震台为电镜保驾护航——首例安装于13楼的SEM顺利通过验收
- 2021-07-28 10:59:01· 优尼康参加第十届ZG国际纳米技术产业博览会（CHINANO 2019）
- 2021-07-28 10:59:01· 优尼康携filmetrics膜厚仪F40首次参加2019BCEIA展会
- 2021-07-28 10:59:01· 光学膜厚仪的优势特点及使用时应该注意的事项
- 2021-07-28 10:59:01· 如何选购膜厚仪，优尼康是您**的选择
- 2021-07-28 10:59:08· 膜厚仪使用中需要注意的一些细节
- 2021-07-28 10:59:08· 5G时代Z重要的半导体材料：碳化硅（SiC）的膜厚测量
- 2021-07-28 10:59:08· 通知 | 关于优尼康在疫情期间客户服务工作通知
- 2021-07-28 10:59:08· 优尼康官方服务号开通了
- 2021-07-28 10:59:08· 薄膜厚度及表面轮廓测量问题征集及优尼康直播预告
- 2021-07-28 10:59:08· 【课程推荐】KLA Instruments | Webinar课程：波长选择，膜厚范围，拟合度
- 2021-07-28 10:59:08· KLA Instruments | Webinar课程：快速傅里叶变换：测厚膜时您的得力助手
- 2021-07-28 10:59:08· 【课程推荐】KLA Instruments | Webinar课程：反射和透射：两个优于一个
【课程推荐】KLA Instruments | Webinar课程：反射和透射：两个优于一个
发布日期：2021-07-28 发布人员： 浏览次数：302
优尼康课程推荐
KLA Instruments | Webinar课程：反射和透射：两个优于一个。
※适合新老客户了解学习膜厚仪的使用；加深对产品的理解。
FILMETRICS
同时测量光谱反射和透射对分析光学薄膜来讲是非常重要的。欢迎来到F10-RT独特的境界里。显然这会限制我们只能用透明基底材料， 但这会让我们更准确地测量光学系数 （特别是消光系数）。除五彩缤纷的介电薄膜外我们还会讨论上百纳米厚的金属薄膜。
*点击“立刻注册”即可预约线上课程
Michelle Shi
应用工程师 @KLA Instruments
Michelle Shi 是KLA Instrument Group Filmetrics 光学轮廓仪以及薄膜测量仪的应用工程师。Michelle 于2019年5月加入KLA公司, 担任Filmetrics薄膜测量以及光学轮廓产品的应用，客户支持以及业务开发，主要支持Profilm3D光学轮廓仪以及Filmetrics全系列薄膜测量产品。在加入KLA之前，Michelle在美国俄亥俄大学获得物理学硕士学位并在NASA Ames硅谷研究ZX进行科学研究，以及在高新科技初创企业kaiaTech担任高级工艺工程师负责半导体薄膜材料的研发及新应用。
-
推荐产品资讯
-
联系我们
在线留言